SUPER XRF 2400PCB鍍層厚度熒光光譜儀——超級X熒光光譜儀

儀器介紹

SUPER XRF 2400PCB鍍層厚度熒光光譜儀是一款功能強大的X熒光光譜儀。它綜合了儀器的常規(guī)測試(普通模式)和*的光路系統(tǒng)測試 (超銳模式)，普通模式能完成全元素，貴金屬，RoHS，鍍層等常規(guī)測試，超銳模式能對客戶比較關心的低含量元素進行更精確的測試。主要是使用天瑞儀器*超銳光路系統(tǒng)，降低儀器的背景噪音，提高儀器的檢出能力，從而提高儀器的整體檢測性能。

技術指標

元素分析范圍從鈉（Na）到鈾（U） 
可進行測試模式之間的轉換，提高測試的效率 
可對10個樣品進行自動切換測試 
一次可同時分析zui多幾十種元素 
分析檢出限zui高可達0.1ppm
分析含量一般為0.1ppm到99.9％ 
任意多個可選擇的分析和識別模型 
相互獨立的基體效應校正模型 
多變量非線性回收程序 
*工作穩(wěn)定性為0.1％ 
溫度適應范圍為15℃至30℃ 
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源

標準配置

超銳X光源和樣品激發(fā)機構 
上蓋電動開關的大容量樣品腔 
可自動切換的準直器，濾光片 
高清晰CCD攝像頭 
SDD探測器 
數(shù)字多道采集處理系統(tǒng) 
高低壓電源 
進口400W端窗光管油冷散熱系統(tǒng)，具有自動控溫功能
樣品自動切換系統(tǒng) 
全自動真空系統(tǒng) 
專業(yè)X熒光分析軟件 
計算機及噴墨打印機 
外觀尺寸： 752（W）x759（L）x 988（H）
樣品腔尺寸：￠376×50 mm 
重量：小于250Kg

性能特點

特殊光路系統(tǒng) 
采用特殊的光路系統(tǒng)，可滿足不同基體中痕量元素的測量，提高信噪比，降低檢出限。

400W大功率X光源 
400W大功率光源使難以激發(fā)的痕量元素獲得更高的計數(shù)率，比普通EDXRF儀器的元素檢出限降低一個數(shù)量級，更加適合痕量元素的檢測。

數(shù)字多道技術 
采用數(shù)字多道技術，儀器可探測的計數(shù)率可高至100kcps,提高了儀器的測量精度,縮短了測量時間。

油冷散熱系統(tǒng) 
油冷散熱系統(tǒng)，保證了大功率X光源的散熱，使儀器的運行更加穩(wěn)定。

光閘系統(tǒng) 
光閘系統(tǒng)，保證X光源的穩(wěn)定性，同時提升X光管使用壽命。

抽真空系統(tǒng) 
抽真空系統(tǒng)，可以滿足輕元素的測量。

自動進樣系統(tǒng) 
自動進樣系統(tǒng)，可以一次連續(xù)檢測十二個樣品，大大提高了測試人員的工作效率。

SUPER XRF 2400側試模式

普通模式：為普通儀器的常規(guī)測試。

超銳模式：使用天瑞儀器*超銳光路系統(tǒng)，SUPER XRF 2400使用的原理主要能實現(xiàn)兩大功能，降低背景，提高檢出能力。

一、如圖一所示，下圖為測土壤中的V（綠）和Cr（紅）。實譜為超銳模式，測得的譜圖，紅色虛譜為普通模式譜圖。由圖可看出，對于關注元素。超銳模式明顯出峰，而普通模式幾乎沒有出峰。

二、下圖二所示，為測土壤中的Zr，實譜為超銳模式所測譜圖，紅色虛譜為普通模式所測譜圖。超銳模式所測得的Zr有效峰背比強度為210.05。普通模式所測得的Zr在相同測試條件下有效峰背比強度為155.72。由圖可以看出超銳模式比普通模式出峰要好，而且超銳模式降低了背景。

從以上譜圖一可以看出，我們在進行常規(guī)測試時。由于土壤中的V、Cr含量低。是無法檢測出其含量的。譜圖二中，雖然Zr能檢測出峰，但是其背景也比較高，對測試的結構影響比較大。而在使用天瑞儀器*超銳光路系統(tǒng)，能降低背景，檢測出低含量的元素，提高儀器的檢出能力。從而提高儀器的整體測試效果。

應用領域

SUPER XRF 2400不僅可滿足中心實驗室和分包實驗室的分析需要，而且適用于環(huán)境監(jiān)測、化工、采礦、鑒定、食品、電子、水泥和冶金行業(yè)。