合金分析儀是一種XRF光譜分析技術，可用于確認物質里的特定元素， 同時將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(λ)及能量(E)確定具體元素，而通過測量相應射線的密度來確定此元素的量。XRF度普術就能測定物質的元素構成。

　　每一個原子都有自己固定數(shù)量的電子(負電微粒)運行在核子周圍的軌道上。而且其電子的數(shù)量等同于核子中的質子(正電微粒)數(shù)量。從元素周期表中的原子數(shù)可以得知質子的數(shù)目。每一個原子數(shù)都對應固定的元素名稱。能量色散X螢光與波長色散X螢光光譜分析技術特別研究與應用了*里層三個電子軌道即K，L，M上的活動情況，其中K軌道*為接近核子，每個電子軌道則對應某元素一個個特定的能量層。

　　在XRF分析法中，從X光發(fā)射管里放射出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量可以將*里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時，原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會進入彌補內層的空間。在這些電子從外層進入內層的過程中，它們會釋放出能量，稱之為二次X射線光子。而整個過程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產生的能量是由電子轉換過程中內層和外層之間的能量差決定的。特定元素在一定時間內所放射出來的X射線的數(shù)量或者密度，能夠用來衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時光子密度的分布情況。

　　使用合金分析儀測量涂層的兩大好處：

　　1.準確的厚度測量有助于制造商提供高質量的產品和控制成本。涂層厚度嚴格;涂層太厚會增加制造成本。客戶還可以測量涂層材料，以確保產品涂有正確的涂層和正確的厚度。

　　2.使用快速、高效、無損的手持合金分析儀有助于在生產線和現(xiàn)場提供質量控制。手持合金分析儀可以在10秒內提供測試結果，并且可以通過準直器進行改進。準直器測試可在30秒內完成。手持XRF光譜儀不會損壞被測材料。由于手持合金分析儀體積小、攜帶方便、手持方便，因此可以方便地檢測大樣本，否則必須將其切成小塊才能使用臺式XRF光譜儀進行檢測。